PCE系列light bar燈條光色電綜合測試系統
用於測試單顆LED、LED/LED背光源、等的相對光譜分佈、色品坐標、主波長、峰值波長、光譜純度、色溫、顯色指數、半寬度、光通量（配積分球），輻射功率、紅色比、色容差等參數，可同時實現LED的瞬態光學特性測量（脈衝測量）及穩態光學特性測量（直流測量）。
技術參數
基本原理：
技術優越性：
● 低雜散光
通過改良設計後高度匹配度的高精度光柵和科學級製冷型陣列探測器，並利用BWCT技術和雜散光校正技術，HAAS-2000的雜散可以比原有高精度快速光譜儀的十分之一還要低。
● 寬線性動態測量範圍
與普通陣列探測器相比，HAAS-2000中的科學級陣列探測器具有更寬的線性動態範圍，且光學匹配改造設計後，儀器的動態範圍進一步拓寬。此外，SBCT技術也大輻提高了HAAS-2000的線性動態範圍。
● 快速
HAAS-2000不僅可以測量光源的穩態特性，而且可以測量它們瞬態光學特性，完全符合相關標準的規定。在儀器的靈敏度範圍內，無論被測光的瞬態脈衝多快（如小於微秒級），儀器均可以通過同步觸發功能實現快速的全光譜測量。HAAS-2000採用科學級陣列探測器代替機械掃描系統，可以在較短的測量時間內（毫秒級）完整完成精確測量整個光譜範圍。
● 高精度
HAAS-2000專為高精度應用場合設計，通過對優質商用科學級製冷型陣列探測器和精密光柵進行改良設計，使其更加匹配，再配以精密的光學系統和電子線路，同時採用多項專利技術，整個系統可以實現高分辨率、高靈敏度、低噪聲、低雜散光和寬動態範圍，從而實現精確測量的目的。
● 高重複性和穩定性
儀器沒有機械運動的掃描機構，唯一會產生隨環境變化的溫度因素也被恆溫製冷技術控製到了±0.05℃的水平，測量的重複性和穩定性高。
技術優越性：
● 低雜散光
通過改良設計後高度匹配度的高精度光柵和科學級製冷型陣列探測器，並利用BWCT技術和雜散光校正技術，HAAS-2000的雜散可以比原有高精度快速光譜儀的十分之一還要低。
● 寬線性動態測量範圍
與普通陣列探測器相比，HAAS-2000中的科學級陣列探測器具有更寬的線性動態範圍，且光學匹配改造設計後，儀器的動態範圍進一步拓寬。此外，SBCT技術也大輻提高了HAAS-2000的線性動態範圍。
● 快速
HAAS-2000不僅可以測量光源的穩態特性，而且可以測量它們瞬態光學特性，完全符合相關標準的規定。在儀器的靈敏度範圍內，無論被測光的瞬態脈衝多快（如小於微秒級），儀器均可以通過同步觸發功能實現快速的全光譜測量。HAAS-2000採用科學級陣列探測器代替機械掃描系統，可以在較短的測量時間內（毫秒級）完整完成精確測量整個光譜範圍。
● 高精度
HAAS-2000專為高精度應用場合設計，通過對優質商用科學級製冷型陣列探測器和精密光柵進行改良設計，使其更加匹配，再配以精密的光學系統和電子線路，同時採用多項專利技術，整個系統可以實現高分辨率、高靈敏度、低噪聲、低雜散光和寬動態範圍，從而實現精確測量的目的。
● 高重複性和穩定性
儀器沒有機械運動的掃描機構，唯一會產生隨環境變化的溫度因素也被恆溫製冷技術控製到了±0.05℃的水平，測量的重複性和穩定性高。
應用指南
